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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Evento (Conference Proceedings)
Sitemtc-m21c.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP3W34R/43ABBTS
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21c/2020/09.23.11.37
Última Atualização2021:03.16.12.33.40 (UTC) self-uploading-INPE-MCTI-GOV-BR
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21c/2020/09.23.11.37.40
Última Atualização dos Metadados2022:01.04.01.35.24 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE--PRE/
Rótuloself-archiving-INPE-MCTIC-GOV-BR
Chave de CitaçãoBrandãoMatoAbra:2020:TeNãDe
TítuloTestes não destrutivos para upscreening de transistor com qualificação militar e fora do przo de relifing
Ano2020
Data de Acesso08 maio 2024
Tipo SecundárioPRE CN
Número de Arquivos1
Tamanho1996 KiB
2. Contextualização
Autor1 Brandão, Fabrício Ribeiro
2 Matos, Priscila Custódio
3 Abrahão, Dhiego Marques Menezes
Grupo1 CSE-ETES-SESPG-INPE-MCTIC-GOV-BR
2 COLIT-COLIT-INPE-MCTIC-GOV-BR
3 CSE-ETES-SESPG-INPE-MCTIC-GOV-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
Endereço de e-Mail do Autor1
2 priscila.matos@inpe.br
Nome do EventoSimpósio de Aplicações Operacionais em Áreas de Defesa
Data29 a 30 set.
Histórico (UTC)2020-09-23 11:37:40 :: simone -> administrator ::
2021-02-03 17:56:32 :: administrator -> self-uploading-INPE-MCTI-GOV-BR :: 2020
2021-03-16 12:33:40 :: self-uploading-INPE-MCTI-GOV-BR -> administrator :: 2020
2022-01-04 01:35:24 :: administrator -> simone :: 2020
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
ResumoEste trabalho tem como objetivo apresentar a verificação da possibilidade de uso espacial de um lote de 50 transistores JANTX2N2905A com qualificação militar que não foi utilizado dentro do prazo para a sua montagem em placa eletrônica. Para isso, em concordância com normas espaciais estabelecidas, foi desenvolvida uma metodologia com a combinação entre os testes do procedimento de relifing, que verificam a confiabilidade de componentes eletrônicos estocados por um longo período, e os testes para a técnica de upscreening, utilizada para verificar a possibilidade da aplicação espacial de componentes eletrônicos que não são formalmente qualificados para esta finalidade. Com isso, foram obtidos resultados satisfatórios perante os testes não destrutivos realizados.
ÁreaETES
Arranjourlib.net > COLIT > Testes não destrutivos...
Conteúdo da Pasta docacessar
Conteúdo da Pasta sourcenão têm arquivos
Conteúdo da Pasta agreement
agreement.html 23/09/2020 08:37 1.0 KiB 
4. Condições de acesso e uso
URL dos dadoshttp://urlib.net/ibi/8JMKD3MGP3W34R/43ABBTS
URL dos dados zipadoshttp://urlib.net/zip/8JMKD3MGP3W34R/43ABBTS
Idiomapt
Arquivo Alvobrandao_testes.pdf
Grupo de Usuáriossimone
Visibilidadeshown
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3F35BSP
8JMKD3MGPCW/444BQ9E
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/bibdigital/2013/10.14.22.20 2
sid.inpe.br/bibdigital/2021/01.30.18.11 1
Acervo Hospedeirourlib.net/www/2017/11.22.19.04
6. Notas
Campos Vaziosarchivingpolicy archivist booktitle callnumber conferencelocation copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel dissemination doi e-mailaddress edition editor format isbn issn keywords lineage mark mirrorrepository nextedition notes numberofvolumes orcid organization pages parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project publisher publisheraddress readergroup readpermission resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark serieseditor session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype type url versiontype volume
7. Controle da descrição
e-Mail (login)simone
atualizar 


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